OES PolySpek - Jiskrové optické emisní spektrometry a laboratorní spektrometry

Přejít na obsah

Hlavní nabídka:

OES PolySpek

ARUN Technology

Nový stolní multi-CCD multi-optic spektrometr

 


- kompaktní stolní provedení
- různé modely přesně pro vaši aplikaci
- vlnový rozsah 165 až 780 nanometrů

-
propracovaný řídící program SPARCS
-
rychlá multiprvková analýza
- velmi jednoduchá instalace

- říz
ený standardním počítačem přes USB rozhraní
- žádná vakuová pumpa
, spojité snímání celého spektra
- otevřené jiskřiště, vhodné i pro rozměrné vzorky

- hmotnost – jen 30 kg
-
4 multi CCD optiky a v každé optice holografická difrakční   mřížka


PolySpek-N

- jiskra v argonové atmosféře
- rozsah vlnových délek 225-470 nm
- pro neželezné aplikace, kde není potřeba stanovovat fosfor, síru.

- i
deální pro slitiny hliníku, hořčíku, zinku nebo mědi
- jedno nebo více matricový systém

PolySpek-F

- jiskra v argonové atmosféře
- rozsah vlnových délek 165-470 nm
- pro železné nebo niklové slitiny, kde je potřeba stanovovat i fosfor, síru a nízké koncentrace dusíku
- pro slitiny mědi, kde je potřeba i fosfor
-
jedno nebo více matricový systém

PolySpek-A

- jiskra v argonové atmosféře
- rozsah vlnových délek 165-780 nm
- pro slitiny hliníku, kde je potřeba stanovovat fosfor, sodík, lithium a draslík
-
jednomatricový systém

PolySpek-M

- jiskra v argonové atmosféře
- rozsah vlnových délek 165-780 nm
- multimatricové aplikace, kde je potřeba celý rozsah vlnových délek (od UV oblasti až po infračervenou)


Ř
ídící program SPARC
- česká verze programu, speciální menu pro dotykovou obrazovku, analytické programy připravené dle požadavku zákazníka
- automatické meziprvkové korekce
, různé módy zobrazení výsledku (jeden nebo více na jedné obrazovce)
- zobrazování pr
ůměru, standardní odchylky, relativní standardní odchylky, identifikace slitin
- režim Ano/Ne
- rekalibrace pro každý program
, typová rekalibrace
- ukládání a zobrazování uložených dat
, automatické ukládání všech událostí
-
export dat (např. na USB disk), přenos výsledku po síti, generátor tiskových sestav, export dat do Excelu
- interface pro systémy kontroly kvality


Optický systém

- multi optika
- vlnový rozsah 165 – 780 nm
- prachuvzdorné provedení
- až 4 lineární multi CCD optiky
- neomezený po
čet kanálu
- automatická elektronická profilace

Budící zdroj

- plně polovodičový s vnitřní stabilizací
- po
čítačem řízená opakovací frekvence, energie a časování
- max. frekvence 400 Hz
- max. proud až 200 A
- p
ředjiskření s vysokou energií
- parametry se automaticky nastavují p
ři změně programu

Jiskřiště

- argonem proplachovaný „Petryho“ stolek
- otev
řené jiskriště, lze analyzovat malé i velké vzorky
- velmi nízká spot
řeba argonu mezi měřeními
- optimální proplach optické cesty
- wolframová elektroda
- jednoduché
čištění jiskřiště

Řízení a sběr dat

- externí standardní PC
- Windows XP
- propojení s p
řístrojem přes USB
- možnost použití dotykové obrazovky

Váha a rozměry

- velikost spektrometru 475 x 475 x 235 mm
- celková transportní hmotnost 34 kg

Požadavky na instalaci

- 220 V 50 Hz, standardní zásuvka
- argon –
čistota 99,999%
- pracovní teplota 0 až 35 st. C

 
 
Návrat na obsah | Návrat do hlavní nabídky